为了可靠地生产具有适当性能的硬盘磁头，磁头制造商必须能够准确地测量蚀刻尺寸。所需的精度可能是十分之几微米或更小，需要对极尖和蚀刻台阶的各个边缘的位置进行纳米级检测。

由于零件的尺寸很小，保持头部的表面质量很重要，因此必须使用极其精确的非接触式光学坐标测量显微镜进行测量。