SNAP-X 测量软件为用户提供了一个简单、强大的界面，可以进行全方位的特征测量，无论是否有预编程的例程。SNAP-X 软件具有三种功能，可实现多种不同用途。

测量：只需将零件放在平台上，然后单击即可开始测量。SNAP-X 软件扫描图像并提取所有可辨别的特征。无需进一步操作即可查看结果，或者可以将特征转换为程序的测量步骤。

分析：使用户能够解决更复杂的 GD&T 要求，例如配置文件或真实位置。显示和报告功能在零件 CAD 上提供图形、颜色编码的偏差须线和 GD&T 标注。

比较：将实时视频图像与 CAD 叠加层进行比较，就像使用光学比较器一样，但分辨率要高得多。颜色编码的公差带有助于识别零件是否在公差范围内。

SNAP-X 测量软件与SNAP大视场测量系统、c-vision 系统和带VidiProbe的轮廓投影仪兼容。