电气测试探针的检查需要精密计量能力来准确测量小特征，例如测试引线末端的定位、间距和共面性。快速且可重复的精密检测过程通常需要多种放大倍率、带 50X 镜头的高性能视频自动对焦和/或用于快速 Z 轴测量的通过镜头激光选项的组合。

除了执行这些要求苛刻的尺寸测量之外，VIEW 系统还用于执行缺陷检查，在这种情况下，包括基板表面上是否存在断线或划痕。